企业官网建设流程全解析

确定网站的主题与风格,小程序开发 杭州,怎么注销个人的营业执照,亦庄开发区建设局网站在 Tessent DFT (TestKompress) 流程中#xff0c;EDT Bypass Mode#xff08;EDT 旁路模式#xff09;是一个至关重要的设计特性。它允许测试信号绕过压缩/解压缩逻辑#xff08;Decompressor 和 Compactor#xff09;#xff0c;将内部众多的短扫描链重新拼接成少数几条…在 Tessent DFT (TestKompress) 流程中EDT Bypass ModeEDT 旁路模式是一个至关重要的设计特性。它允许测试信号绕过压缩/解压缩逻辑Decompressor 和 Compactor将内部众多的短扫描链重新拼接成少数几条较长的扫描链直接连接到外部芯片引脚Channels。其核心作用和应用场景可以概括为以下几点1. 故障诊断与调试 (Debug Diagnosis)这是 Bypass 模式最主要的作用。排除压缩逻辑干扰当测试出现不匹配Mismatch时压缩逻辑的存在会增加定位失效点的难度。通过 Bypass 模式测试人员可以像使用传统的“全扫描Full Scan”一样直接访问内部寄存器从而确定问题是出在核心逻辑Core Logic还是 EDT 逻辑本身。确定性加载压缩模式下数据经过 LFSR 等解压缩算法处理无法任意指定每一位扫描链的值。Bypass 模式允许测试向量Pattern直接加载到指定的扫描单元便于手动构造调试向量。2. 覆盖率补充 (Coverage Top-up)解决“不可编码”故障EDT 压缩依赖于测试向量的编码能力。某些极深、复杂的逻辑故障可能因为约束过多而无法被压缩算法编码Encoding Failure。最后手段在压缩模式达到覆盖率瓶颈后可以切换到 Bypass 模式生成少量的确定性向量ATPG patterns以抓取那些在压缩模式下无法覆盖的残留故障。3. 板级测试与烧录测试 (Board-Level Burn-in Testing)减少引脚需求在板级测试或老化测试Burn-in时测试机的资源可能非常有限。Bypass 模式特别是Single Chain Bypass可以将所有扫描链串成极少数甚至一条长链仅需通过 TDI/TDO 等少量引脚即可完成基本的逻辑翻转测试。4. 逻辑结构对比在硬件实现上Bypass 模式通过在解压缩器后和压缩器前添加复用器 (Multiplexers)来实现EDT ON外部 Channel Decompressor 内部短链 Compactor 外部输出。EDT Bypass外部 Channel Mux 内部拼接长链 Mux 外部输出。Tessent TestKompress 扫描压缩技术详解这个视频详细介绍了 Tessent EDT 的基本原理及其在压缩和旁路模式下的不同运作方式。